高速p-i-n光电二极管中的闪变噪声
仪器与探测器
2015-06-26 v1 光学
摘要
探测调制光束的光电二极管输出端的微波信号包含探测器的相位噪声phi(t)与幅度噪声alpha(t)。除已被充分理解的白噪声外,谱密度S_phi(f)与S_alpha(f)表现出与1/f成正比的闪变噪声。我们报道了高速p-i-n光电二极管的相位与幅度噪声测量。主要结果是,样品的闪变系数约为相位噪声1E-12 rad^2/Hz(-120dB),幅度噪声约为1E-12 Hz^-1(-120dB)。这些值仅在解决若干实验问题并在受保护环境中才能观测到。相比之下,在普通条件下,不足的EMI隔离与不足的机械隔离会导致额外的噪声引入。这表明若重新审视封装与EMC,应用便可充分受益于p-i-n光电二极管令人惊讶的低噪声。
引用
@article{arxiv.physics/0503022,
title = {Flicker noise in high-speed p-i-n photodiodes},
author = {Enrico Rubiola and Ertan Salik and Nan Yu and Lute Maleki},
journal= {arXiv preprint arXiv:physics/0503022},
year = {2015}
}
备注
11 pages, 3 figures, 24 references