味对称性、轻子生成与中微子绝对质量标度

我们研究了当味对称性破缺标度高于轻子数破缺标度时，味对称性与轻子生成之间的相互作用。我们证明，当重马约拉纳中微子属于味群的不可约表示时，所有轻子生成 CP 不对称性在精确对称极限下消失。在可约表示的情况下，我们确定了一个一般条件，如果满足该条件，则可保证相同的结果。然后，我们聚焦于一个模型，其中 $A_4$ 味对称性导致自由参数数量急剧减少，这意味着在领头阶，若干量仅是最轻中微子质量 $m_l$ 的函数，而 $m_l$ 本身受到强烈约束。对于正序 (NO)，我们发现 $m_l\simeq (0.0044 \div 0.0056) \, \text{eV}$；对于反序 (IO)，$m_l\gtrsim 0.017 \, \text{eV}$。对于 $0\nu2\beta$ 衰变参数，这给出 $|m_{ee}|\simeq (0.006\div 0.007) \, \text{eV}$ (NO) 和 $|m_{ee}|\gsim 0.017 \, \text{eV}$ (IO)。我们证明，轻子生成 CP 不对称性仅依赖于 $m_l$、一个单一的非层级汤川耦合 $y$ 以及两个量化味对称性破缺效应的参数，并论证在我们的模型中，轻子生成的非味化区域是强烈偏好的，从而实现了相当可预测的情景。通过计算物质-反物质不对称性，我们发现对于 NO，对于对称性破缺参数的自然值，观测值很容易被重现。对于 IO，成功的轻子生成仅在有限的参数选择下可能，这意味着相当高的再加热温度 $T_{\text{reh}}\gtrsim 5 \times 10^{13} \, \text{GeV}$。