XENON10对亚GeV暗物质的首次直接探测上限
宇宙学与河外天体物理
2015-06-05 v1 高能物理 - 实验
高能物理 - 唯象学
摘要
利用XENON10数据，首次给出了MeV到GeV质量范围暗物质的直接探测上限。这种轻暗物质可以与电子散射，导致探测器靶材料中的原子电离，并产生单电子或少数电子事件。我们使用2006年获取的15 kg-天数据来设定暗物质-电子散射截面的上限。在100 MeV处获得最强约束，sigma_e < 3 × 10^{-38} cm^2（90%置信水平），而20 MeV到1 GeV的暗物质质量在90%置信水平下被约束为sigma_e < 10^{-37} cm^2。这一分析首次证明了直接探测实验可以对质量远低于GeV尺度的暗物质候选者敏感。
引用
@article{arxiv.1206.2644,
title = {First Direct Detection Limits on sub-GeV Dark Matter from XENON10},
author = {Rouven Essig and Aaron Manalaysay and Jeremy Mardon and Peter Sorensen and Tomer Volansky},
journal= {arXiv preprint arXiv:1206.2644},
year = {2015}
}
备注
Submitted to PRL