利用氙电子直接探测探索亚MeV boosted暗物质
高能物理 - 唯象学
2021-05-26 v1 高能天体物理现象
高能物理 - 实验
摘要
由于反冲能量阈值，直接探测实验在搜寻亚MeV轻暗物质候选者时灵敏度下降。然而，此类轻暗物质粒子可被高能宇宙射线加速，从而可利用现有探测器进行探测。我们由XENON100/1T实验推导了boosted轻暗物质与电子散射的约束。我们阐明截面的能量依赖性在提升直接探测灵敏度以及直接探测与其他实验的互补性方面起着关键作用。
引用
@article{arxiv.2006.12767,
title = {Exploring for sub-MeV Boosted Dark Matter from Xenon Electron Direct Detection},
author = {Qing-Hong Cao and Ran Ding and Qian-Fei Xiang},
journal= {arXiv preprint arXiv:2006.12767},
year = {2021}
}
备注
5 pages with supplements