基于中间质量介体的电子直接探测轻暗物质
高能物理 - 唯象学
2026-05-13 v1 高能物理 - 实验
摘要
近年来，电子基直接探测实验的灵敏度有了显著的提高。通常，针对暗物质散射的灵敏度是在轻质量和重质量介体质量极限下确定的。本文中，我们指出，轻质量和重质量介体质量极限并非由单个尺度分隔，而是可以相隔最多三个数量级的介体质量，以次级 GeV 质量的暗物质为例。我们计算了 Si 和 Ge 靶材以及投影 DAMIC-M灵敏度，以具有介质量介体（介于轻质量和重质量极限之间）的亚 GeV 质量暗物质模型。这样，我们即可确定当暗物质余量通过冻结-in 产生时，电子基直接探测实验灵敏的精确介体质量范围。我们将此处所述的计算结果公开于更新的 EXCEED-DM（https://github.com/tanner-trickle/EXCEED-DM）发布版中。
引用
@article{arxiv.2605.11063,
title = {Electronic Direct Detection of Light Dark Matter with Intermediate-Mass Mediators},
author = {Connor Stratman and Tanner Trickle},
journal= {arXiv preprint arXiv:2605.11063},
year = {2026}
}
备注
12 pages, 7 figures