超薄钙钛矿薄膜的铁电性
材料科学
2007-05-23 v1
摘要
我们报告了在具有真实电极的超薄钙钛矿薄膜中的铁电性研究。结果表明，厚度小于 10 埃的薄膜可保持稳定的铁电态，且极化方向垂直于表面。在短路边界条件下，研究了真实电极的屏蔽效应以及真实金属/氧化物界面对薄膜极化的影响。我们的研究表明，金属屏蔽效应受到氧化物表面工作函数差异的影响。我们以铁电 PbTiO 和 BaTiO 薄膜为例证明了这一现象。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0505051,
title = {Ferroelectricity in ultra-thin perovskite films},
author = {Na Sai and Alexie M. Kolpak and Andrew M. Rappe},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0505051},
year = {2007}
}
备注
4 pages in REVTEX4, 4 epsf figures