金属/氧化物界面铁电性的增强
材料科学
2011-03-03 v1
摘要
通过对基于BaTiO3和PbTiO3的四种电容器结构进行第一性原理计算，我们确定了导致薄膜铁电器件中极化态失稳的固有界面效应。我们表明，与已有的解释相反，界面电容关键取决于界面局域化学环境（通过金属-氧键的力常数体现），而不一定与电极材料的体屏蔽性质相关。特别是，在AO终止的钙钛矿与简单金属之间的界面情况下，我们展示了一种新颖的“界面铁电性”机制，该机制导致薄膜铁电不稳定性的整体增强，而非通常假设的抑制。由此产生的“负死层”为制备无有害尺寸效应的薄膜铁电器件提供了一条途径。
引用
@article{arxiv.0811.0632,
title = {Enhancement of ferroelectricity at metal/oxide interfaces},
author = {Massimiliano Stengel and David Vanderbilt and Nicola A. Spaldin},
journal= {arXiv preprint arXiv:0811.0632},
year = {2011}
}
备注
7 pages, 5 figures