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具有降低唤醒效应的铁电HfO$_2$-ZrO$_2$多层膜

材料科学 2025-04-01 v2 应用物理

摘要

自HfO2_2薄膜中发现铁电性以来,大量研究聚焦于掺Zr的HfO2_2和固溶体(Hf,Zr)O2_2薄膜。通过多层化可以进一步调控功能特性,然而,这种方法在HfO2_2-ZrO2_2薄膜中尚未得到充分探索。本工作展示了一种50 nm厚、溶液处理的HfO2_2-ZrO2_2多层膜中的铁电性,使其成为迄今为止展现铁电特性的最厚多层膜。通过透射电子显微镜(TEM)和能量色散X射线能谱确认了多层结构,高分辨率TEM显示晶粒在多个层间连续。这一发现表明,原本顺电的ZrO2_2层中的极性相可以被HfO2_2层稳定。该薄膜获得了9 uC/cm2^2的剩余极化,并表现出加速的唤醒行为,这归因于多个界面的引入导致其具有更高的击穿强度。这些结果为厚铁电氧化铪薄膜提供了一种更快的唤醒机制。

关键词

引用

@article{arxiv.2411.08683,
  title  = {Ferroelectric HfO$_2$-ZrO$_2$ multilayers with reduced wake-up},
  author = {Barnik Mandal and Adrian-Marie Philippe and Nathalie Valle and Emmanuel Defay and Torsten Granzow and Sebastjan Glinsek},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2411.08683},
  year   = {2025}
}