不同厚度绝缘体上铌酸锂薄膜的铁电畴反转及其稳定性
材料科学
2016-04-20 v1
摘要
实验表征了铁电畴反转及其对绝缘体上铌酸锂（LNOI）薄膜稳定性的影响。选取了两组厚度从亚微米到微米级不同的样品。对于微米厚样品（约 28 um），通过光刻图案化电极的脉冲电场极化实现畴结构。使用偏光光学显微镜和腐蚀检查一个月未观察到畴结构退化。对于亚微米（540 nm）薄膜，通过压电力显微镜中扫描加偏压的导电探针实现大面积畴反转。采用图形处理方法评估畴保持。得到畴寿命为 25.0 h，并讨论了可能机制。我们的研究为 LNOI 的畴结构相关应用提供了直接参考，包括导波非线性频率转换、非线性波前调控、电光调制以及压电器件。
引用
@article{arxiv.1604.05444,
title = {Ferroelectric domain inversion and its stability in lithium niobate thin film on insulator with different thicknesses},
author = {Guang-hao Shao and Yu-hang Bai and Guo-xin Cui and Chen Li and Xiang-biao Qiu and De-qiang Geng and Di Wu and Yan-qing Lu},
journal= {arXiv preprint arXiv:1604.05444},
year = {2016}
}
备注
8 Pages