利用参数流形映射探索高频涡流检测用于子孔径缺陷表征
应用物理
2021-10-27 v1
摘要
小缺陷的准确表征在无损检测（NDT）中仍具挑战。本文在平面半空间中表面开口缺陷的单频涡流缺陷表征问题上应用主成分参数流形映射方法。开发并验证了一种宽频1-8 MHz的有限元-电路模型与校准方法，用于模拟表面开口缺口缺陷的涡流扫描。该模型用于生成铝平面半空间中表面开口缺陷的参数化缺陷数据库，并对实验测量进行缺陷表征。参数流形映射在N维主成分空间中进行，降低了表征问题的维度。在一项表征槽深的实验中，该模型与表征方法被证明能准确反演深度，其精度优于简单振幅反演法：在2.0 MHz下对0.26-2.15 mm间5个槽深测量的归一化百分比表征误差分别为38%和17%。该方法用于表征斜槽深度，在宽亚共振频率范围内至约2.0 mm深度均表现良好精度，表明其在几何特征反演中的应用潜力。最后将该技术应用于一系列频率下表面尺寸小于检测线圈直径（子孔径）的有限矩形缺口缺陷。结果凸显了此类缺陷表征的局限性，并指出共振中固有的不稳定性如何严重限制这些频率下的表征。
引用
@article{arxiv.2102.04778,
title = {Exploring high-frequency eddy-current testing for sub-aperture defect characterisation using parametric-manifold mapping},
author = {Robert R. Hughes and Bruce W. Drinkwater},
journal= {arXiv preprint arXiv:2102.04778},
year = {2021}
}
备注
14 pages, 8 figures, research paper