容式交叉共振门的Fluxonium参数探索
量子物理
2026-03-19 v1
摘要
我们研究了容式耦合Fluxonium量子比特中的交叉共振效应,设计出其最大ZX相互作用强度的简洁公式。通过超越扰动 regime,我们发现具有频率低于1 GHz的Fluxonium量子比特,可在ZX相互作用强度下实现200纳秒内完成CNOT门,剩余ZZ误差控制在50 kHz以内。我们的分析依赖于半解析方法:首先数值对强驱动控制量子比特的Floquet哈姆顿量进行对角化,然后扰动性地纳入弱量子比特间耦合,以获得有效哈姆顿量。我们还推导出围绕有害控制-目标和控制-旁观者过渡的频率碰撞窗口。对于大型Fluxonium器件,我们预测其在杂合 yield 上比相同布局下的transmon更少受制于结极变动性。这些结果支持仅依赖容式耦合的全Fluxonium交叉共振体系结构的可行性。
引用
@article{arxiv.2603.17936,
title = {Exploration of Fluxonium Parameters for Capacitive Cross-Resonance Gates},
author = {Eugene Y. Huang and Christian Kraglund Andersen},
journal= {arXiv preprint arXiv:2603.17936},
year = {2026}
}
备注
34 pages, 22 figures