基于等价对称投影的多维纠缠实验测量

我们构建了一种线性光学测量过程，以测定在光学参量下转换过程中产生的一组 $4 \times 4$ 维双光子纠缠纯态的纠缠度量，即 \emph{I-concurrence}。在我们的实验中，通过对单子系统的双份拷贝实现 \emph{等价}对称投影（由 L. Aolita 和 F. Mintert 提出，Phys. Rev. Lett. \textbf{97}, 050501 (2006)），可以通过观测单侧双光子符合计数来实现，而无需对另一子系统进行任何触发探测。在此，我们首次利用光子的不可区分性和聚束效应，实现了对双光子纯态中所含纠缠的测量。我们的方法可以测定参量下转换过程中产生的通用高维二分纯态的 \emph{I-concurrence}。