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自发参量下转换双光子态的光谱纠缠表征

量子物理 2009-10-12 v1

摘要

我们验证了一种基于直接测量二分系统纠缠度的操作方案。具体而言,测量了由短泵浦脉冲序列产生的纯双光子态的单计数和符合计数的光谱分布,并计算了纠缠度量。该方案给出了总双光子态中存储的纠缠度的上界,该上界可达到高达 10410510^{4}-10^{5} 的极值。

关键词

引用

@article{arxiv.0904.3009,
  title  = {Characterization of Spectral Entanglement of Spontaneous Parametric-Down Conversion Biphotons},
  author = {G. Brida and V. Caricato and M. Genovese and M. Gramegna and M. V. Fedorov and S. P. Kulik},
  journal= {arXiv preprint arXiv:0904.3009},
  year   = {2009}
}