自旋玻璃临界关联长度的实验测定

通过测量单晶 CuMn(6$\%$) 自旋玻璃样品的热剩磁（TRM）衰减，我们系统地图绘了特征时间尺度 $tw_{eff}$ 在 $T_g$ 附近的急剧下降。利用 $tw_{eff}$ 来确定等待时间内关联生长的长度尺度 $\xi_{TRM}$（在数值研究与实验中均被观测到），我们观察到在自旋玻璃相中 $\xi_{TRM}$ 的生长，以及随后在极接近 $T_g$ 处的快速缩减。我们将所有等待时间下 $\xi_{TRM}$ 的此一缩减解释为受临界关联长度尺度 $\xi_{crit}=a(T-T_c)^{-\nu}$ 所支配。