PS/PMMA 纳米层状薄膜中临界层厚度的存在性
软凝聚态物质
2017-07-05 v2 介观与纳米尺度物理
材料科学
化学物理
数据分析、统计与概率
摘要
我们开展了一项实验研究，旨在探究纳米层共挤出中是否存在一个临界层厚度，低于该厚度时观察不到连续层。通过一系列层倍增元件进行共挤出，制备了包含数千层交替聚合物且各层厚度低于 100 nm 的聚合物薄膜。制备了由聚甲基丙烯酸甲酯（PMMA）和聚苯乙烯（PS）交替层组成的不同薄膜，旨在使各层厚度尽可能小，同时改变层数、两组分的质量组成以及薄膜的最终总厚度。利用原子力显微镜（AFM）对薄膜进行表征，并使用统计分析方法确定层厚度分布及层的连续性。对于 PS/PMMA 纳米层状体系，结果表明存在约 10 nm 的临界层厚度，低于该厚度时层发生破裂。无论采用何种加工路线均会达到该临界层厚度，这表明它可能仅依赖于材料特性而与工艺参数无关。我们提出这种破裂现象是由微小的界面扰动引起的，这些扰动被（范德华）分离压力放大。
引用
@article{arxiv.1703.09517,
title = {Existence of a critical layer thickness in PS/PMMA nanolayered films},
author = {Adrien Bironeau and Thomas Salez and Guillaume Miquelard-Garnier and Cyrille Sollogoub},
journal= {arXiv preprint arXiv:1703.09517},
year = {2017}
}