通过石墨烯输运测量评估电解质门控引入的无序
介观与纳米尺度物理
2016-06-22 v2
摘要
我们通过石墨烯中的输运测量评估了电解质门控器件中的无序程度。通过比较离子门控与标准金属门控器件的迁移率，我们表明离子液体的沉积引入了密度约为 cm 的带电杂质；这将石墨烯迁移率的上限限定为 3000 cm/Vs。在更高温度下，离子液体中的声子进一步降低迁移率，使其在室温下的上限为 2000 cm/Vs。由于无序程度与基底材料无关，这些结果对于理解使用电解质门控的通用器件中的无序效应具有价值。
引用
@article{arxiv.1604.02869,
title = {Evaluation of Disorder Introduced by Electrolyte Gating through Transport Measurements in Graphene},
author = {Andrew Browning and Norio Kumada and Yoshiaki Sekine and Hiroshi Irie and Koji Muraki and Hideki Yamamoto},
journal= {arXiv preprint arXiv:1604.02869},
year = {2016}
}