经颅磁刺激诱发脑电伪迹校正算法的评估
定量方法
2019-10-30 v1 神经元与认知
摘要
经颅磁刺激与脑电图结合（TMS-EEG）被广泛用于临床或研究目的以研究脑区的反应性与连接性。TMS 设备的电磁脉冲在施加瞬间产生大幅值、持续长达数十毫秒的伪迹，并与脑活动重叠。已开发 TMS 伪迹校正方法以去除伪迹并恢复皮层对磁刺激潜在的即时响应。本研究评估了三种此类算法。由于被掩盖的脑活动无真值，采用由分离的 TMS 伪迹叠加于 EEG 脑活动形成的试点数据来评估算法性能。评估考虑了不同 TMS-EEG 实验场景：静息态 TMS、TMS 诱发癫痫样放电以及癫痫样放电期间施以 TMS。我们表明，所提出的间隙填充方法能够复现定性特征，且在许多情况下密切近似隐藏的 EEG 信号。最后，讨论了 TMS 校正算法及试点数据方法的局限性。
引用
@article{arxiv.1810.10894,
title = {Evaluation of algorithms for correction of transcranial magnetic stimulation induced artifacts in electroencephalograms},
author = {Panteleimon Vafeidis and Vasilios K. Kimiskidis and Dimitris Kugiumtzis},
journal= {arXiv preprint arXiv:1810.10894},
year = {2019}
}
备注
18 pages, 7 figures, 2 tables. Med Biol Eng Comput (2019)