基于分离超平面和失配度量估算适用于 PUF 应用的 SRAM 单元
密码学与安全
2024-12-03 v1
摘要
物理不可克隆函数（PUF）用作设备认证和密钥创建中的低成本密码学原语。SRAM-PUF 作为熵源广为人知，但由于在电源启动过程中存在非确定性噪声环境，面临低挑战-响应可重复性问题。通常通过将复杂的纠错码（ECC）与模糊提取器结构组合来实现可靠性，这会增加功耗、面积、成本和设计复杂度。本研究基于分离超平面概念和单元失配度，建立了有效的度量，以估算因变量性效应导致在电源启动时趋于相同初始状态的单元百分比。用于验证所提出度量的噪声和温度效应。所提出的度量可用于 SRAM-PUF 的设计阶段，以检验不同设计参数对 PUF 应用中可靠单元百分比的影响。
引用
@article{arxiv.2412.01560,
title = {Estimation during Design Phases of Suitable SRAM Cells for PUF Applications Using Separatrix and Mismatch Metrics},
author = {Abdel Alheyasat and Gabriel Torrens and Sebastia A. Bota and Bartomeu Alorda},
journal= {arXiv preprint arXiv:2412.01560},
year = {2024}
}
备注
15 pages, 15 figures