混合单电子盒中环境激活的隧穿事件
介观与纳米尺度物理
2011-06-13 v3
摘要
我们测量了具有不透明超导体-正常金属隧道结的单电子盒中的单个隧穿事件和库仑台阶形状。我们观察到库仑台阶随温度降低而出现异常展宽，这与外部耗散电磁环境激活一阶隧穿事件的行为一致。我们证明了能量不利的隧穿事件速率在低温下趋于有限值，并且该饱和水平可以通过器件附近的电容分流抑制一个数量级以上。这些发现对于评估任何单电子器件的性能极限至关重要。特别是，基于主方程的模拟表明，在电容分流器件中实现的电磁环境允许基于混合隧道结的计量学精确电荷泵。
引用
@article{arxiv.1006.0479,
title = {Environmentally Activated Tunneling Events in a Hybrid Single-Electron Box},
author = {O. -P. Saira and M. Mottonen and V. F. Maisi and J. P. Pekola},
journal= {arXiv preprint arXiv:1006.0479},
year = {2011}
}
备注
6 pages, 3 figures; reformatted in PRB style, embedded EPAPS contents in the main article