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将度量嵌入ultrametric以及将图嵌入生成树: 以常数平均失真为保证

离散数学 2016-08-31 v2

摘要

本文关注如何使树良好地近似度量空间或图的距离。给定图,构建一个能够强力保持图中距离的生成树,是网络设计中的一个基本问题。我们提出了尺度失真嵌入,其中失真随 ϵ\epsilon 的函数而变化,保证对于每个 ϵ\epsilon,失真小于等于该值的配对比例为 1ϵ1-\epsilon。这种界限特别地意味着平均失真和 q\ell_q 失真都很小。具体而言,我们的嵌入具有常数平均失真和 O(logn)O(\sqrt{\log n})2\ell_2 失真。这源于以下结果:我们证明任何度量空间可嵌入到ultrametric,尺度失真为 O(1/ϵ)O(\sqrt{1/\epsilon})。对于图的情况,我们证明任何加权图包含一个尺度失真为 O(1/ϵ)O(\sqrt{1/\epsilon}) 的生成树。即使对于嵌入到任意树的情况,这些界限也紧密。对于概率性嵌入到生成树,我们证明尺度失真为 O~(log2(1/ϵ))\tilde{O}(\log^2 (1/\epsilon)),这意味着每个固定的 q<q<\inftyq\ell_q 失真为常数。

关键词

引用

@article{arxiv.cs/0610003,
  title  = {Embedding Metrics into Ultrametrics and Graphs into Spanning Trees with Constant Average Distortion},
  author = {Ittai Abraham and Yair Bartal and Ofer Neiman},
  journal= {arXiv preprint arXiv:cs/0610003},
  year   = {2016}
}

备注

Extended abstrat apears in SODA 2007