阐明金属卤化物钙钛矿薄膜中的长程电荷载流子迁移率
材料科学
2018-12-18 v1 应用物理
摘要
铅卤化物钙钛矿多晶薄膜的许多光电性质已有报道。然而，这些性质的评估仍存在模糊之处，尤其是对于长程横向电荷传输，其中离子传导会使数据解释复杂化。在此我们展示了一种测量此类材料长程电荷载流子迁移率的新技术。我们将准稳态光电导测量（电学探针）与光致透射和反射测量（光学探针）结合，以同时评估电导率和电荷载流子密度。基于此，我们确定由乙腈/甲胺溶剂体系制备的 CH3NH3PbI3 (MAPbI3) 多晶钙钛矿薄膜的横向迁移率约为 2 cm2/Vs。此外，我们展示了通过不同制备工艺（包括溶液和气相沉积技术）制备的当代钙钛矿组分薄膜之间长程电荷载流子迁移率的显著差异，从 2.2 到 0.2 cm2/Vs 不等。可以说，我们的工作首次在光伏运行典型达到的电荷载流子密度下，对铅卤化物钙钛矿薄膜的长程横向电荷载流子迁移率进行了准确评估。
引用
@article{arxiv.1812.06322,
title = {Elucidating the long-range charge carrier mobility in metal halide perovskite thin films},
author = {Jongchul Lim and Maximilian T. Hoerantner and Nobuya Sakai and James M. Ball and Suhas Mahesh and Nakita K. Noel and Yen-Hung Lin and Jay B. Patel and David P. McMeekin and Michael B. Johnston and Bernard Wenger and Henry J. Snaith},
journal= {arXiv preprint arXiv:1812.06322},
year = {2018}
}