D0-D4背景下Witten-Sakai-Sugimoto模型中的电磁不稳定性与Schwinger效应

利用D0-D4背景下的Witten-Sakai-Sugimoto模型，我们通过全息方法计算了该模型中Schwinger效应的真空衰变率。我们的计算包含了D0-brane密度的影响，该密度可被视为QCD中的$\theta$角或手性势。在强电磁场下，由于夸克-反夸克对的产生而出现不稳定性，相应的衰变率可通过计算有效Euler-Heisenberg作用的虚部得到，该作用被认定为带有恒定电磁场的探针膜的作用。在气泡D0-D4构型中，我们发现随着$\theta$角增大衰变率减小，因为该系统中存在胶子凝聚时真空变得更重。根据我们的计算，在零温度极限下衰变率与黑D0-D4构型中的结果相符。从这个意义上说，该模型的Hawking-Page相变可一致地解释为禁闭/退禁闭相变。此外，该系统中还存在来自D0-brane自身的另一种不稳定性，我们提出这种不稳定性反映了由$\theta$角触发的真空衰变，正如在依赖于$\theta$的QCD中所知。