拓扑绝缘体缩颈结构中大质量狄拉克粒子的电开关与干涉测量
介观与纳米尺度物理
2013-08-12 v2
摘要
我们研究了四端器件中拓扑绝缘体纳米缩颈结构内的电荷与自旋输运的电开关效应。边缘通道的开关是由缩颈处重叠的边缘态之间的耦合以及接触处的隧穿效应引起的，因此可以通过调节分离栅极上的施加电压或通过几何刻蚀来进行操控。通过涉及在不同侧栅配置下测量电流的电子干涉测量法，可以方便地研究该开关机制，同时可以调节来自外部引线的施加偏压以获得纯电荷流或纯自旋流（电荷偏压和自旋偏压配置）。器件的法布里 - 珀罗 (Fabry-Perot) 物理中显现出量子限制效应、量子尺寸效应和能隙的相关特征，从而允许对电荷和自旋流进行完整表征。所提出的电开关行为提供了一种有效的工具，可用于以可控方式操控拓扑边缘态输运。
引用
@article{arxiv.1208.0514,
title = {Electrical switching and interferometry of massive Dirac particles in topological insulators constrictions},
author = {F. Romeo and R. Citro and D. Ferraro and M. Sassetti},
journal= {arXiv preprint arXiv:1208.0514},
year = {2013}
}
备注
10 pages; 14 figures