还原过程对还原氧化石墨烯阴极场发射性能的影响
材料科学
2018-05-01 v1
摘要
评估并比较了由三种不同还原方法制备的还原氧化石墨烯(rGO)阴极的电子场发射(FE)性能。特别是，将分别使用 NaOH 或 KOH 作为还原剂的化学还原技术与热还原(TR)方法进行了比较。X 射线光电子能谱(XPS)测量表明，不同的还原技术导致不同的 GO 晶格参数。此外，通过紫外光电子能谱(UPS)测量的功函数在样品间存在差异，从而导致了不同的电子发射特性。特别是，由 TR 方法制备的阴极表现出最佳的 FE 性能，其开启场低至约 1.8 V mm^-1，场增强因子约为 1300，然而这与 NaOH 还原片材所展示的数值非常接近。KOH 还原的纳米片表现出最差的 FE 性能。鉴于上述结果，评估并讨论了不同还原技术以及最终 rGO 晶格特性对发射性能的作用。
引用
@article{arxiv.1804.10813,
title = {Effect of the reduction process on the field emission performance of reduced graphene oxide cathodes},
author = {Labrini Sygellou and George Viskadouros and Costas Petridis and Emmanuel Kymakis and Costas Galiotis and Dimitrios Tasis and Emmanuel Stratakis},
journal= {arXiv preprint arXiv:1804.10813},
year = {2018}
}