非弹性离子碰撞对低增益雪崩探测器的影响：基于 A_Si-Si_i 缺陷模型的解释
仪器与探测器
2023-11-14 v1
摘要
在低增益雪崩探测器（LGAD）的框架内，讨论了阻碍其功能的受主移除现象（ARP），并基于 A_Si-Si_i 缺陷模型加以阐释。研究表明，为解释辐照下 B_Si-Si_i 缺陷的形成（尤其在极低温下），间隙硅快速扩散的假设是多余的。ARP 的实验观测性质可由基态下 B_Si-Si_i 缺陷的施主特性解释。此外，报道了淬火硼掺杂硅的低温光致发光光谱，显示出迄今未辨明的 PL 谱线，这些谱线会因众所周知的光致退化（LID）处理而改变。
引用
@article{arxiv.2311.07280,
title = {Effect of inelastic ion collisions on low-gain avalanche detectors explained by an A_Si-Si_i-defect mode},
author = {Kevin Lauer and Stephanie Reiß and Aaron Flötotto and Katharina Peh and Dominik Bratek and Robin Müller and Dirk Schulze and Wichard Beenken and Erik Hiller and Thomas Ortlepp and Stefan Krischok},
journal= {arXiv preprint arXiv:2311.07280},
year = {2023}
}