NDL原型LGAD传感器质子辐照后的辐射效应
仪器与探测器
2021-07-07 v1
摘要
我们研究由中国高能物理研究所（IHEP）和北京师范大学新型器件实验室（NDL）研制的低增益雪崩探测器（LGAD）传感器的辐射效应。这些新传感器已在中国原子能科学研究院（CIAE）使用100 MeV质子束在5种不同注量下辐照，范围从7 至4.5 。结果表明，如受主移除机制所预期的那样，增益层中的有效掺杂浓度随辐照注量增加而降低。通过比较数据与模型得到受主移除系数 = ，表明NDL传感器具有相当好的抗辐射性能。
引用
@article{arxiv.2006.11691,
title = {Radiation effects on NDL prototype LGAD sensors after proton irradiation},
author = {Yuhang Tan and Tao Yang and Suyu Xiao and Kewei Wu and Lei Wang and Yaoqian Li and Zhenwei Liu and Zhijun Liang and Dejun Han and Xingan Zhang and Xin Shi},
journal= {arXiv preprint arXiv:2006.11691},
year = {2021}
}