介质器件电流统计中的相位耗散效应

我们利用最近发展的数统计模型，探讨了介质导体电流统计中相位耗散的效应，特别关注介质腔体和阿哈诺-博姆环形器件。对于此类器件，我们分析了任意相干度对电流矩cumulants的影响。我们恢复了完全相干和完全非相干传输的已知结果，并能够获得在部分相干 regime 中，针对 varying 开放通道数目的详细信息。我们指出，相位耗散对平均电流、散粒噪声和更高阶矩有定量和定性相似的影响，因此散粒噪声或电流更高阶矩并不提供关于相干性的额外或补充信息。