关联导致的修饰强烈削弱电声子耦合效应

我们研究了裸载流子与声子的耦合同关联修饰后的准粒子与声子的耦合之间的差异，并表明后者即便在前者很强时也可能很弱。具体而言，我们分析了对铜氧化物层掺入单个空穴时所形成准粒子的色散产生影响的空穴—声子耦合。为此建模，我们从三带 Emery 模型出发，并补充因 O 离子运动引起的 $p$-$d$ 与 $p$-$p$ 跳跃的 Peierls 调制。随后我们投影至强关联 $U_{dd}\rightarrow \infty$ 极限，其中 Cu 位上的电荷涨落被冻结。所得有效哈密顿量描述了掺杂空穴在 O 子格上的运动及其与 Cu 自旋和 O 声子的相互作用。我们表明，即便空穴—声子耦合为中等至强，相较于无声子耦合时的质量，它仅导致准粒子有效质量极微小的增加，这与关联修饰准粒子对声子的弱耦合一致。我们解释了此抑制的原因，揭示了为何其在任何强关联系统中均预期会发生。