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长期照射下突变频率的剂量与剂量率依赖性——从WAM模型重新审视DDREF

生物物理 2016-02-15 v2

摘要

我们利用最近提出的Whack-A-Mole (WAM)模型研究了人工辐射引起的突变频率的剂量与剂量率依赖性。我们特别关注的是长期低剂量率照射的情况。结果表明,剂量率依赖性可用WAM模型成功描述,并且它可能取代所谓的DDREF——该概念长期以来被用于考虑高剂量率数据与低剂量率数据之间的差异。讨论了WAM模型的基本特性,着重于剂量率依赖性,以展示模型中内置的显式剂量率依赖性如何发挥关键作用。通过采用为拟合巨型小鼠实验所确定的参数,讨论了长期暴露于极低剂量率辐射的生物学效应。在WAM模型中,长期照射的效应表现出饱和特性,这与预测效应随时间线性增加的LNT假说形成明显区别。

关键词

引用

@article{arxiv.1503.00227,
  title  = {Dose and dose-rate dependence of mutation frequency under long-term exposure - A new look at DDREF from WAM model -},
  author = {Takahiro Wada and Yuichiro Manabe and Issei Nakamura and Yuichi Tsunoyama and Hiroo Nakajima and Masako Bando},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1503.00227},
  year   = {2016}
}

备注

20 pages, 5 figures, 2 tables, submitted to Journal of Nuclear Science and Technology