某些渗流超导体 - 绝缘体转变处动态电导率的发散

随机电感 - 电容（LC）网络可表现出渗流超导体 - 绝缘体转变（SITs）。我们使用一种简单高效的算法，计算了大型（4000 x 4000）正方格子上一种 LC 网络的动态电导率 $\sigma(\omega,p)$，其中 $\delta=p-p_c$ 是 SIT 的调节参数。我们证实电导率服从标度形式，使得特征频率标度为 $\Omega \sim |\delta|^{\nu z}$，其中 $\nu z \approx 1.91$；超流刚度标度为 $\Upsilon \sim |\delta|^t$，其中 $t \approx 1.3$；电极化率标度为 $\chi_E \sim |\delta|^{-s}$，其中 $s = 2\nu z - t \approx 2.52$。在绝缘态中，低频耗散电导率呈指数级小，而在超导体中则与频率成线性关系。Im $\sigma(\omega)$ 在小 $\omega$ 处的符号在跨越 SIT 时发生改变。最重要的是，我们发现恰在 SIT 处 Re $\sigma(\omega) \sim \omega^{t/\nu z-1} \sim \omega^{-0.32}$，因此电导率在直流极限下发散，这与大多数其他经典和量子 SIT 模型形成对比。