系统消光分布规律与广义de Wolff品质因数在EBSD从头 indexing 中的应用
材料科学
2020-11-17 v5 应用物理
摘要
针对EBSD（电子背散射衍射）从头标定，报道了一种采用若干最初为粉末标定所发明方法的新方法。利用系统消光分布规律与抗误差的Bravais晶格判定，消除不可见带与可见带错误信息带来的负面影响。此外，提出广义版本的de Wolff品质因数作为所得晶胞参数的新排序准则，可用于Kikuchi花样中的取向判定与从头标定。计算结果表明新品质因数表现良好，与原始de Wolff 类似。同时指出了标定解的歧义性，尤其见于低对称性晶胞，即便给出极准确的带中心线位置与投影中心，也可能产生多个不同解。
引用
@article{arxiv.2003.13403,
title = {Distribution rules of systematic absence and generalized de Wolff figure of merit applied to EBSD ab-initio indexing},
author = {R. Oishi-Tomiyasu and T. Tanaka and J. Nakagawa},
journal= {arXiv preprint arXiv:2003.13403},
year = {2020}
}