对Nd$_{1.83}$Ce$_{0.17}$CuO$_{4\pm\delta}$薄膜的无序敏感泵浦-探测测量

我们在电阻温度依赖性中的无序驱动特征，与描述三个Nd$_{1.83}$Ce$_{0.17}$CuO$_{4\pm\delta}$样品光诱导差分时间分辨反射率中某些弛豫过程所需的参数随温度的变化行为之间，发现了明确的关系。后者具有相同的Ce含量，经过专门制备和退火，以仅在不程度无序上存在差异（主要关涉氧含量与位置），并因此导致电阻温度依赖性的差异：其中两个呈现电阻极小值，分别表现为超导体和金属，第三个表现为绝缘体。对于所有三个样品，电阻与弛豫参数随温度的行为之间存在系统的相干性，这绝对引人注目，并表明泵浦-探测测量可对无序极其敏感，正如这一范例所示，无序驱动了新的激发及相关弛豫通道的出现。