利用二维 DSPSI 直接测量应变和斜率
医学物理
2011-09-29 v1
摘要
多种光学全场测量技术正在被开发并应用于解决力学问题。由于每种技术都有其优点，因此了解这些技术的能力和局限性至关重要。在这些光学全场方法中，干涉测量技术占据重要地位。它们基于相干光（激光）照明。在剪切干涉测量中，直接测量的是两个相邻物点的面外位移差。由于物体位移不会产生干涉条纹，该方法适用于应变集中区域的定位，并确实被工业界用于此目的。定量使用的 DSPSI 相较于传统的面外位移敏感干涉测量具有优势，即仅需解包裹相位图的单次差分即可获得弯曲应变，从而缓解了噪声问题和视场减小的问题。关于 (DSPSI) 的首篇发表于 1973 年，但提供定量测量的系统的出现则更为近期。本工作旨在展示利用数字散斑图样剪切干涉测量 (DSPSI) 进行应变测量的结果。
引用
@article{arxiv.1109.6185,
title = {Direct strain and slope measurement using 2D DSPSI Title},
author = {Wajdi Dandach and Jérôme Molimard and Pascal Picart},
journal= {arXiv preprint arXiv:1109.6185},
year = {2011}
}
备注
Communication \`a la Conf\'erence M\'editerran\'eenne sur les Mat\'eriaux Innovants et Applications -CIMA, Beyrouth, Liban-Mars 15-17, 2011; JM-CIMA.pdf