直接定量分析法测定超低本底材料暴露于粉尘后的表面污染
仪器与探测器
2021-02-24 v1
摘要
在这项工作中，我们提出了一种直接测定材料表面因暴露于粉尘而产生的污染物沉降速率的方法。研究了天然放射性核素 K-40、Th-232、U-238 和稳定 Pb。迄今为止，粉尘颗粒的本底贡献主要根据沉降模型和假定的粉尘成分进行估算。我们的方法利用多种低本底收集介质在感兴趣的位置进行暴露，随后使用电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）进行表面浸出和浸出液分析。该方法已通过验证，并应用于太平洋西北国家实验室（PNNL）和 SNOLAB 地下设施的选定位置。
引用
@article{arxiv.2006.12746,
title = {Direct method for the quantitative analysis of surface contamination on ultra-low background materials from exposure to dust},
author = {M. L. di Vacri and I. J. Arnquist and S. Scorza and E. W. Hoppe and Jeter Hall},
journal= {arXiv preprint arXiv:2006.12746},
year = {2021}
}