SrTiO$_{3}$双晶中亚微米尺度缺陷诱导双折射的直接成像
材料科学
2009-10-31 v1
摘要
使用能够进行定量偏振测量的近场扫描光学显微镜，我们绘制了SrTiO双晶融合边界附近与单个亚微米缺陷相关的各向异性应变场。许多缺陷表现出意想不到的螺旋形应变图案，其手性被认为与双晶合成过程有关。对这些缺陷诱导应变场的直接观察有助于解释先前观察到的高温超导晶界结在SrTiO双晶上制造时的不均匀特性。
引用
@article{arxiv.cond-mat/9802058,
title = {Direct Imaging of Submicron Scale Defect-induced Birefringence in SrTiO$_{3}$ Bicrystals},
author = {E. B. McDaniel and J. W. P. Hsu},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/9802058},
year = {2009}
}
备注
LATEX, 13 pages, 3 jpeg and 1 postscript figures