La0.5Sr0.5FeO3-d 中 B 位阳离子掺杂导致电子空穴耗尽的直接证据
强关联电子
2011-06-07 v1 材料科学
摘要
在空穴掺杂的 La0.5Sr0.5FeO3 中，用 Ta 部分取代 Fe 会使电导率降低多达三个数量级。这一降低与电子空穴浓度的减少以及 O(1s)-Fe(3d) 混合态中光谱权重从费米能级附近的 eg 带向 t2g 带的转移直接相关。Fe(2p) 和 O(1s) X 射线吸收光谱的相应差异揭示了初始态中共价性增强的态以及含有 O(2p) 特征的态的形成，并且空穴态是材料中输运性质变化的原因。eg 带与 t2g 带的强度比似乎是空穴形成的一个光谱指标。
引用
@article{arxiv.1106.0991,
title = {Direct evidence for electron hole depletion in La0.5Sr0.5FeO3-d upon B-site cation doping},
author = {Artur Braun and Defne Bayraktar and Ashley S. Harvey and Daniel Beckel and John A. Purton and Peter Holtappels and Ludwig J. Gauckler and Thomas Graule},
journal= {arXiv preprint arXiv:1106.0991},
year = {2011}
}
备注
PACS numbers: 71.27.+a, 71.30.+h, 71.38.-k, 72.10.Fk, 78.70.Dm