渗流阈值附近二维金属 - 绝缘体复合材料的介电损耗
材料科学
2007-10-23 v1
摘要
先前研究表明，金属 - 绝缘体复合材料的介电损耗角的频率依赖性是实验确定渗流阈值的有效方法。本研究发现，在接近直流和极高频率的情况下，该角的统计特性与渗流阈值附近的临界键（支撑总电流）的统计特性相似。文中进一步讨论了将该角与临界键联系起来的方法。这些研究的第二个目的是将该角的频率依赖性与复合材料中导体相或介电相的比例联系起来。
引用
@article{arxiv.0710.3875,
title = {Dielectric loss of 2D metal-insulator composite near the percolation threshold},
author = {F. R. Hamou and N. Zekri and R. Bouamrane and J. P. Clerc},
journal= {arXiv preprint arXiv:0710.3875},
year = {2007}
}
备注
9 pages 8 figures, submitted to J.Phys.D