低操作成本下量子比特的设备无关维度泄漏零检验
量子物理
2024-10-10 v2
摘要
我们构建了一个量子比特两能级空间的零检验，该检验既是设备无关的，又只需要少量不同的实验。我们在 IBM Quantum 上证明了其可行性，大多数量子比特以超过 10 个标准偏差未能通过检验。该检验对常见技术缺陷（如退相干和相移）以及假设可忽略的泄漏的鲁棒性表明，偏差的起源超出了已知效应。
引用
@article{arxiv.2405.18827,
title = {Device-independent dimension leakage null test on qubits at low operational cost},
author = {Tomasz Rybotycki and Tomasz Białecki and Josep Batle and Adam Bednorz},
journal= {arXiv preprint arXiv:2405.18827},
year = {2024}
}
备注
7 pages, 4 figures