利用量子行走的嵌入本征值探测边缘缺陷
谱理论
2024-03-26 v3 数学物理
math.MP
摘要
我们考虑 上的位置依赖量子行走。特别地，我们推导了一种通过其时间演化算子的嵌入本征值来探测边缘缺陷的方法。在本文中，边缘缺陷的集合是 上硬币算子为反对角矩阵的那些点。事实上，在某些适当假设下，有限个边缘缺陷的存在等价于时间演化算子存在嵌入本征值。
引用
@article{arxiv.1805.11742,
title = {Detection of edge defects by embedded eigenvalues of quantum walks},
author = {Hisashi Morioka and Etsuo Segawa},
journal= {arXiv preprint arXiv:1805.11742},
year = {2024}
}