二维成像 triple-GEM 探测器电阻阳极的设计与优化

通过数值模拟和实验测试，研究了一种由一系列高阻方形焊盘和低阻条带包围组成的二维成像探测器的电阻阳极的优化。研究发现，为了获得良好的探测器性能，焊盘与条带的电阻比应大于5，焊盘表面电阻的不均匀性最好小于 $20\%$，较小的焊盘宽度导致较小的空间分辨率，当焊盘宽度为 $6mm$ 时，空间分辨率（$\sigma$）可达到约 $105{\mu}m$。基于研究结果，构建了具有优化电阻阳极的二维 GEM 探测器原型，并获得了良好的成像性能。