带capacitive-sharing 3坐标(X-Y-U)-条纹阴极读出的triple-GEM探测器性能
仪器与探测器
2025-06-25 v1
摘要
capacitive-sharing读出概念已在前一研究中详细描述，为使用简单标准PCB制造技术开发高性能三坐标(X-Y-U)-条纹读出Micro Pattern Gaseous Detectors(MPGDs)提供了可能。capacitive-sharing(X-Y-U)-条纹读出允许同时测量粒子位置的笛卡尔坐标x和y，以及沿对角轴的第三个坐标u于单个读出PCB内。这为在高能物理(HEP)和核物理(NP)中中等粒子通量环境下的多重命中歧义和模式识别能力提供了强大的工具。我们在本文中介绍了10 cm乘以10 cm的triple-GEM探测器，其采用capacitive-sharing(X-Y-U)-条纹阴极读出。在Thomas Jefferson国家加速器设施(Jefferson Lab)的束流测试中，获得了X条纹的空间分辨率 = 71.6 ± 0.8 μm，Y条纹的空间分辨率 = 56.2 ± 0.9 μm，以及U条纹的空间分辨率 = 75.2 ± 0.9 μm。讨论了未来原型读出设计的修改，以提高空间分辨率以及在大面积MPGDs中扩缩的挑战。
引用
@article{arxiv.2407.20097,
title = {Performance of a triple-GEM detector with capacitive-sharing 3-coordinate (X-Y-U)-strip anode readout},
author = {Kondo Gnanvo and Andrew Weisenberger and Seung Joon and Lee and Rui de Oliveira and Bertrand Mehl},
journal= {arXiv preprint arXiv:2407.20097},
year = {2025}
}