通过 Hong-Ou-Mandel 干涉测量法探测环境噪声导致的单电子产生中的退相干
介观与纳米尺度物理
2014-06-02 v2
摘要
我们考虑了退相干对量子点的影响，该量子点向量子霍尔效应的手性边缘通道注入单电子。退相干通过量子点与代表电磁环境的玻色子浴的耦合来描述。利用量子光学的输入 - 输出形式体系，我们推导了边缘自由度的密度矩阵。通过计算两个此类单电子发射器在量子点接触位置发生碰撞时的零频电流 - 电流关联来展示结果，其精神类似于量子光学中的 Hong-Ou-Mandel 实验。此类关联直接与量子力学纯度相关。我们表明，正如最近实验所观察到的那样，当两个电子波包之间的时间延迟为零时，退相干效应会导致 Hong-Ou-Mandel 凹陷不消失。此外，还获得了针对时间滤波波包以及相反边缘之间不对称失谐注入的推广结果。
引用
@article{arxiv.1312.5028,
title = {Dephasing in single-electron generation due to environmental noise probed by Hong Ou Mandel interferometry},
author = {Eiki Iyoda and Takeo Kato and Kazuki Koshino and Thierry Martin},
journal= {arXiv preprint arXiv:1312.5028},
year = {2014}
}
备注
8 pages, 4 figures