电动力学哪条路径装置中的相位耗散与热烫毁
介观与纳米尺度物理
2009-11-07 v1
摘要
在电动力学哪条路径装置中，穿过阿哈诺-博姆环形器且其中一条路经由量子点电子由于与射频手术臂的基本弯曲模式相互作用而产生相位耗散，导致干涉条纹可视性降低。然而，在有限温度下，时间平均测量电流导致的干涉条纹可视性降低部分源于电子相位耗散，另一部分源于热烫毁效应。热烫毁与相位耗散之间的平衡预测的计算结果对手术臂基态的选择极其敏感。手术臂与其环境之间的相互作用预计会选择其共轭态基态，因而导致相位耗散率显著低于若选取福克尔态则会产生的相位耗散率。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0110131,
title = {Dephasing and thermal smearing in an electromechanical which-path device},
author = {A. D. Armour and M. P. Blencowe},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0110131},
year = {2009}
}
备注
To appear in Phonons 2001 Proceedings (Physica B)