源自曲率子调制衰变的密度扰动

我们研究了在曲率子衰变率依赖于另一个轻标量场（称为调制子）的模型中的密度扰动，包括其非高斯性。尽管该模型与标准曲率子和调制重加热场景存在一些相似之处，但它对 $f_{NL}$ 和 $g_{NL}$ 展现出了该模型特有的有趣预测。我们还讨论了调制子和曲率子涨落共同贡献于最终曲率扰动的可能性。我们的结果自然地将标准曲率子和调制重加热场景作为特定极限包含在内，因此有助于对这些模型及其变体给出统一的处理。