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量子测量过程中的纠缠度

量子物理 2009-11-07 v1

摘要

我们提出一种离子陷阱中的量子测量模型,其指定了被俘获四能级离子的两个不同内禀基态的概率分布。四能级离子的外部运动自由度构成计量器,而该计量器又通过工程化库与环境耦合。在先前发表的工作中,类似的测量模型被用于基于纠缠系统-计量器方案的符合测量来检验量子非局域性在相空间中的退相干效应。这里,我们研究退相干对由并发度刻画的形成纠缠的影响。系统的并发度可用来找出 Bell 不等式的最大可能违背。令人惊讶的是,该模型对 Bell 不等式在何种程度上可被视为纠缠的度量这一问题提供了说明性见解。

关键词

引用

@article{arxiv.quant-ph/0204054,
  title  = {Degree of entanglement in a quantum measurement process},
  author = {Matthias Jakob and Yonatan Abranyos and Janos A. Bergou},
  journal= {arXiv preprint arXiv:quant-ph/0204054},
  year   = {2009}
}

备注

Revtex, 8 pages, 5 eps figures