相互作用拓扑绝缘体表面的电流诱导能隙打开
介观与纳米尺度物理
2019-12-13 v2
摘要
二维拓扑绝缘体(TIs)具有无隙螺旋边缘态，理论预言其支持量子化双端电导。量子化受时间反演对称保护，该对称禁止弹性背散射。矛盾的是，载流态本身打破了保护它的时间反演对称。本文表明，螺旋边缘态中电子-电子相互作用与动量依赖自旋极化的结合产生反馈，使外加电流在边缘态色散中打开能隙，从而破坏对弹性背散射的防护。电流诱导能隙打开通过系统 特性的非线性贡献显现，并持续至零温。我们讨论了在近期发现的大体带隙TIs中的实现前景，以及三维TI表面态的类似电流诱导能隙打开机制。
引用
@article{arxiv.1901.08067,
title = {Current-induced gap opening in interacting topological insulator surfaces},
author = {Ajit C. Balram and Karsten Flensberg and Jens Paaske and Mark S. Rudner},
journal= {arXiv preprint arXiv:1901.08067},
year = {2019}
}
备注
6 pages, 2 figures, published version