磁纳米条中电流驱动的斯格明子排出
介观与纳米尺度物理
2017-05-25 v2
摘要
我们利用微磁模拟和解析计算研究了磁纳米条中电流驱动的斯格明子排出。我们探究了斯格明子排出的阈值电流密度，表明该阈值由临界边界力以及自旋转移矩参数决定。我们还发现了临界边界力对磁参数的依赖关系；临界边界力随交换刚度与垂直各向异性常数的增大而减小，而随Dzyaloshinskii-Moriya相互作用和饱和磁化常数的增大而增大。利用一个描述斯格明子与局部倾斜边缘磁化的简单模型，我们基于缩放的Dzyaloshinskii-Moriya相互作用参数与临界边界力之间的关系，揭示了临界边界力依赖磁参数的潜在物理机制。该工作为理解斯格明子排出及斯格明子与器件边界的相互作用提供了基础认识，并表明器件中斯格明子的稳定性可与磁性材料的缩放Dzyaloshinskii-Moriya相互作用参数相关联。
引用
@article{arxiv.1702.05672,
title = {Current-driven skyrmion expulsion from magnetic nanostrips},
author = {Myoung-Woo Yoo and Vincent Cros and Joo-Von Kim},
journal= {arXiv preprint arXiv:1702.05672},
year = {2017}
}
备注
8 pages, 9 figures