基于点的图像配准在单分子显微镜应用中的异方差误差模型 Cramer-Rao 下界
统计方法学
2015-06-30 v2
摘要
推导了多元异方差变量误差模型中仿射变换参数估计的 Cramer-Rao 下界。该模型适用于基于特征的图像配准，其中两组控制点的定位均存在误差，且其协方差矩阵逐点变化。重点针对荧光显微镜图像的配准，还推导了配准图像中特征位置（例如单分子）估计的 Cramer-Rao 下界。在定位误差的所有协方差矩阵均为某个共同正定矩阵（例如单位矩阵）的标量倍数这一特殊情况下（这在荧光显微镜中是可假设的），给出了 Cramer-Rao 下界的简化表达式。在某些简化假设下，证明了这些表达式与先前提出的一组估计量的渐近分布相匹配。理论结果已通过模拟和实验数据得到验证。
引用
@article{arxiv.1504.05781,
title = {Cramer-Rao Lower Bound for Point Based Image Registration with Heteroscedastic Error Model for Application in Single Molecule Microscopy},
author = {E. A. K. Cohen and D. Kim and R. J. Ober},
journal= {arXiv preprint arXiv:1504.05781},
year = {2015}
}