透射电子显微镜揭示的Bi2Sr2-xLaxCuO6 (0<x<=1.1)中反相条纹超结构的成分演化
超导电性
2013-06-04 v2
摘要
利用透射电子显微镜（TEM）研究了La掺杂BiSrLaCuO（La-Bi2201，0≤x≤1.1）的详细结构性质。在Bi基铜氧化物中众所周知的非公度超调制q1从原始Bi2201相的单斜超结构演变为La-Bi2201(x=0.73)相的正交超结构。x=0.25样品的调制矢量（q1）的b分量约为0.24b*，在x=0.84样品中略微增加到0.246b*，而在x=1.10样品中显著增加到0.286b*。我们在所有La掺杂Bi2201样品中发现了一种新的反相条纹超结构，产生了具有矢量q2的新调制。该q2调制是通过添加反相结构直接从正交调制q1演化而来，因此其矢量q2等于q1b/2。我们还讨论了这些结构研究对La-Bi2201中角分辨光电子能谱（ARPES）实验所揭示的电子结构的意义。
引用
@article{arxiv.1303.0111,
title = {Compositional Evolution of the Anti-phase Stripe Superstructure in Bi2Sr2-xLaxCuO6 (0<x<=1.1) Revealed by Transmission Electron Microscopy},
author = {Z. Chen and Yingying Peng and Z. Wang and Y. J. Song and Jianqiao Meng and X. J. Zhou and J. Q. Li},
journal= {arXiv preprint arXiv:1303.0111},
year = {2013}
}
备注
The format of some authors' name changed