有限 $\mathbb{N}^d$ 集上受控坏序列的复杂度
计算机科学中的逻辑
2020-06-09 v5 计算复杂性
摘要
我们给出了有限 集上的优序与劣序下受控坏序列长度的上界与下界。结果通过将此类序列的长度由 Cichon 谱系中的函数界定而得到。这使我们能将这些结果转化为快速增长的复杂度类上的界。所得到的界对优序被证明是紧的，从而解决了 Abriola、Figueira 与 Senno（Theor. Comp. Sci, Vol. 603）留下的一个开放问题。最后，我们利用受控坏序列的结果证明了某些自动机类的空性问题之上界。
引用
@article{arxiv.1909.01667,
title = {Complexity of controlled bad sequences over finite sets of $\mathbb{N}^d$},
author = {A. R. Balasubramanian},
journal= {arXiv preprint arXiv:1909.01667},
year = {2020}
}